O NAMITEC convida a comunidade acadêmica e profissional para o IEEE EDS Distinguished Lecture Webinar, que será ministrado pelo Prof. Gilson I. Wirth no dia 26 de setembro de 2025, às 10h (horário de Brasília).
Tema: Charge Trapping in Semiconductor Devices: From Device Level Modeling to Circuit Analysis
Transmissão: Ao vivo pelo YouTube
Na palestra, o Prof. Wirth abordará os mecanismos de captura e emissão de carga por defeitos (traps) em dispositivos MOS, destacando seus impactos no ruído de baixa frequência, na Bias Temperature Instability (BTI) e no Random Telegraph Noise (RTN). Será apresentada também uma abordagem de modelagem e simulação baseada em física, com implicações práticas para projetistas de circuitos preocupados com confiabilidade e desempenho.
O evento é gratuito e aberto a todos os interessados.
Inscreva-se aqui: https://events.vtools.ieee.org/event/register/501629
